大口径元件吸收缺陷检测仪

产品介绍

大口径元件吸收缺陷检测仪(PTM-2000-LA),基于光热扫描显微成像技术,适用于各类大口径固体表面及亚表面缺陷的检测和分析,特别是各类大口径光学薄膜、光学元器件表面及亚表面吸收缺陷的检测和分析。本系统是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器,可根据用户具体需求进行紫外、可见或红外波段的精密检测和分析。

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产品参数
大口径元件吸收缺陷检测仪
型号 PTM-2000-LA
检测灵敏度 ≤10ppb
检测波长 355nm、532nm、1064nm或定制波长
空间分辨率 ≤10um
样品尺寸 ≤500mm x 500mm ( L x W )或客户订制
光学显微成像系统分辨率(可选配) ≤1um

*注:可根据用户需求提供同类特制仪器和相关测试的解决方案。

产品特点

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