平面元件缺陷检测设备

产品介绍

平面元件缺陷检测设备(AOSI-4000F),主要用于平面光学元件的全自动外观质量检测,该设备自动化程度高、批量上料、自动传送、智能检测,根据检测结果智能分选,并生成每个元件的检测报告。

设备可生成检测日志,按照不同的时问周期,根据元件检测数量、缺陷检测类型比例等条件生成检测日志观察生产良率变化,对生产工艺改进做出指导。

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产品参数
平面元件缺陷检测设备
型号 AOSI-4000F
样品类型 平面元件
典型样品尺寸[1] Ф5mm-Ф30mm
最大检测效率 2400 pcs/h(@Ф10mm,40/20)
上下料方式 全自动上下料,接口可定制
典型检测标准 [2] 美军标MIL-PRF-13830B
额定功率 6.5KW
供电电源 220V,50Hz
压缩空气 0.6MPa-0.8MPa,300L/min
设备尺寸[3] 1800mm x 1500mm x 2080mm
设备重量 850kg

*注1:样品尺寸可根据需求进行拓展。
*注2:检测标准可拓展其他检测标准,例如国际标准ISO10110-7、国标GB/T 1185-2006、自定义标准。
*注3:设备尺寸可根据现场安装条件进行调整。

产品特点

如果您对本款产品有意向,想了解更多可以给 我们留言,我们将在第一时间与您联系

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